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P89V52X2_3
NXP B.V. 2009. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 03 — 4 May 2009
50 of 57
NXP Semiconductors
P89V52X2
80C51 with 256 B RAM, 192 B data EEPROM
All other pins disconnected
Fig 28. IDD test condition, Idle mode
All other pins disconnected
Fig 29. IDD test condition, Power-down mode
002aaa557
VDD
P0
EA
RST
XTAL2
(n.c.)
clock
signal
XTAL1
VSS
IDD
8
DUT
002aaa558
VDD
VDD = 2 V
VDD
P0
EA
RST
XTAL2
(n.c.)
XTAL1
VSS
IDD
VDD
8
DUT
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